Zitat
M. Eisenmann, A. Reinke, V. Weru, M. D. Tizabi, F. Isensee, T. J. Adler, S. Ali, V. Andrearczyk, M. Aubreville, U. Baid, S. Bakas, N. Balu, S. Bano, J. Bernal, S. Bodenstedt, A. Casella, V. Cheplygina, M. Daum, M. De Bruijne, A. Depeursinge, R. Dorent, J. Egger, D. G. Ellis, S. Engelhardt, M. Ganz, N. Ghatwary, G. Girard, P. Godau, A. Gupta, L. Hansen, K. Harada, M. Heinrich, N. Heller, A. Hering, A. Huaulmé, P. Jannin, A. E. Kavur, O. Kodym, M. Kozubek, J. Li, H. Li, J. Ma, C. Martín-Isla, B. Menze, A. Noble, V. Oreiller, N. Padoy, S. Pati, K. Payette, T. Rädsch, J. Rafael-Patiño, V. S. Bawa, S. Speidel, C. H. Sudre, K. Van Wijnen, M. Wagner, D. Wei, A. Yamlahi, M. H. Yap, C. Yuan, M. Zenk, A. Zia, D. Zimmerer, D. Aydogan, B. Bhattarai, L. Bloch, R. Brüngel, J. Cho, C. Choi, Q. Dou, I. Ezhov, C. M. Friedrich, C. Fuller, R. R. Gaire, A. Galdran, Á. G. Faura, M. Grammatikopoulou, S. Hong, M. Jahanifar, I. Jang, A. Kadkhodamohammadi, I. Kang, F. Kofler, S. Kondo, H. Kuijf, M. Li, M. Luu, T. Martinčič, P. Morais, M. A. Naser, B. Oliveira, D. Owen, S. Pang, J. Park, S. Park, S. Płotka, E. Puybareau, N. Rajpoot, K. Ryu, N. Saeed, A. Shephard, P. Shi, D. Štepec, R. Subedi, G. Tochon, H. R. Torres, H. Urien, J. L. Vilaça, K. A. Wahid, H. Wang, J. Wang, L. Wang, X. Wang, B. Wiestler, M. Wodzinski, F. Xia, J. Xie, Z. Xiong, S. Yang, Y. Yang, Z. Zhao, K. Maier-Hein, P. F. Jäger, A. Kopp-Schneider, and L. Maier-Hein, “Why is the Winner the Best?,” 2023 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), New York, USA, pp. 19955–19966, 2023.