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Fault tolerance evaluation study of a RISC-V microprocessor for HEP applications

Schnelle Fakten

  • Weitere Publizierende

    Alexander Stanitzki, Dietmar Tutsch

  • Veröffentlichung

    • 2024
  • Sammelband

    Fault tolerance evaluation study of a RISC-V microprocessor for HEP applications (19)

  • Zeitschrift/Zeitung

    Journal of Instrumentation

  • Organisationseinheit

  • Fachgebiete

    • Mikro- und Nanoelektronik
  • Forschungsschwerpunkte

    • Learning Chips Lab (LCL)
  • Format

    Journalartikel (Artikel)

Zitat

A. Walsemann, M. Karagounis, A. Stanitzki, and D. Tutsch, “Fault tolerance evaluation study of a RISC-V microprocessor for HEP applications,” Journal of Instrumentation, vol. 19, pp. C02012–C02012, 2024.

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